基于光学频率梳的高精度绝对测距研究

报告摘要：高精度长度和距离测量在科学技术研究和工业应用中至关重要。得益于光学频率梳卓越的时频特性，不仅实现了光学频率的精密测量及其与微波频率的对接，而且带来了距离测量技术的革新，进而催生出一系列大尺寸、可溯源的精密绝对距离测量方法和手段。本报告将结合本人的研究方向，重点介绍光学频率梳多波长干涉绝对距离测量系统及其计量意义，同时还将介绍片上微腔光频梳测距的研究进展，并探讨其发展趋势。

报告人简介：王国超，湖北天门人，本硕博毕业于国防科技大学，曾于2012-2014年在韩国科学技术院（KAIST）联合培养两年；2016年-2022年在某部队任职，2019-2022年为国防科技大学智能科学学院博士后，2023年1月入职国防科技大学智能科学学院任讲师。个人研究领域主要包括：光学频率梳精密测量与计量、基于量子信息技术的时空基准测量和光子集成芯片技术等。作为项目负责人主持国家自然科学基金、湖南省基金等项目6项，参与科研项目10多项，在IEEE Transaction系列、Optics Letter和Optics Express等期刊上发表论文30余篇，授权发明专利上十项，多次受邀作会议报告，曾任Micromachines特刊客座编辑。